LED驱动类IC的多SITE高效测试

韩新峰

（中国电子科技集团公司第58研究所，江苏 无锡 214035）

1 引言[1]

LED驱动电源是把电源供应转换为特定的电压电流以驱动LED发光的电压转换器，通常情况下LED驱动电源的输入包括高压工频交流（即市电）、低压直流、高压直流、低压高频交流（如电子变压器的输出）等。

随着LED的不断发展应用，市场对于LED驱动电路的需求也不断增长。IC供应商在迅速增长的LED市场中想要占有更高的市场份额，对于IC生产周期的控制就显得尤为重要，所以IC供应商更加青睐于高效的测试方案。

目前对于LED驱动芯片的CP（晶圆）测试由于受测试资源等条件的限制大部分采用的是双工位或者4工位测试，生产效率较低，对于4工位以上的并行测试方法在测试行业中应用并不多。针对该问题，本文对CP测试阶段的8工位高效测试方法在硬件设计和软件编写方面做了详细介绍。

2 硬件设计

2.1 PRO硬件设计

按照客户提供的测试方案设计测试回路是测试环节的重要一步。首先，要根据测试条件来分配测试系统的资源，使测试资源得到最大化的利用。其次，再设计测试回路时要综合考虑尽量避免资源缺失导致重复更改外围。

图1为本文介绍的8工位测试中某个工位的硬件原理图。

图1 单SITE硬件原理图

根据图1中所示，该IC在测试过程中需要5个源，8个工位就需要40个源。然而本文中所用的测试机只有32路源，所以对于IC的GATE、OUT脚位共用一个测试源（OVI8），在测试过程中是通过继电器的切换来满足测试要求。

同时，每个SITE使用7个继电器，这样理论上总共需要56个继电器（单刀单掷式）控制位。……