4项科研成果喜获“上海市科技进步奖”
2016-06-07 07:10:04本刊通讯员
上海计量测试
2016年2期
4项科研成果喜获“上海市科技进步奖”
2016年4月18日，上海市人民政府在上海展览中心召开 2015年度上海市科技奖励大会，上海市领导韩正、杨雄等为上海科技发展和现代化建设做出突出贡献的科技工作者颁奖。上海市计量测试技术研究院有4项科研项目获奖，其中二等奖2项，三等奖2项。
《纳米标准装置与定标技术应用》项目获得上海市科技进步二等奖。项目成果广泛应用于半导体公司以及科研院所，为微、纳米技术研究与应用的相关企业提供校准和检测服务。项目所建立的纳米标准装置的功能性和各项技术指标达到国际先进水平。项目申请专利7项，授权4项；申报并获批计算机软件著作权1项，发表论文15篇，起草国家标准1项。
《纳米薄膜及颗粒测量标准方法的建立及相关标准物质应用》项目获得上海市科技进步二等奖。项目建立了3项纳米薄膜和粒度分析用国家标准，获批了纳米膜厚和比表面积2类9种国家级标准物质，广泛应用于新材料生产企业和检测机构，成为企业提供内部质量控制的基准，为纳米新材料检测机构提供检测定值的依据，分别填补了国内相关微纳米薄膜及颗粒分析用标准方法和标准物质体系空白。项目整体研究达到国际先进水平。项目获批授权发明专利3项，发表论文7 篇，起草国家标准3项。
《食品接触材料关键危害物检测体系建立及标准物质制备》项目获得上海市科技进步三等奖。项目建立了食品接触材料中关键危害物检测体系，包括：气体颗粒物、表面处理剂、增塑剂、阻燃剂、着色剂、微生物类上百种关键危害物。……
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