电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高硅铝合金中Nb、Mo、W、Ta含量

刘喜山　高　颂　庞晓辉　李　蓓

(中航工业北京航空材料研究院，航空材料检测与评价北京市重点实验室，北京 100095)



电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高硅铝合金中Nb、Mo、W、Ta含量

刘喜山高颂庞晓辉李蓓

(中航工业北京航空材料研究院，航空材料检测与评价北京市重点实验室，北京 100095)

介绍了用ICP-OES法测定高硅铝合金中铌、钼、钨、钽元素的方法。通过溶样方法的选择、仪器工作参数的优化、基体和共存元素的影响等试验，确定了采用盐酸、氢氟酸和硝酸溶解样品，用基体匹配方法消除基体钛对测定的影响。在仪器最佳工作条件下，选择了Nb：269.706 nm、Mo：202.030nm、W：239.708 nm、Ta：240.063 nm为待测元素分析线，测得的方法检出限是0.001～0.002μg/mL。加标回收和精密度结果表明：本方法快速、准确，可以满足铝合金中的铌、钼、钨、钽元素的测定要求，方法RSD<9.45%，回收率90%～110%。

电感耦合等离子体原子发射光谱法高硅铝合金铌、钼、钨、钽

高硅铝合金具有高比强度和比刚度，目前仍是飞机的主要结构材料，在飞机上的应用仍有不可取代的优势[1]。铌、钼、钨、钽是稀有难熔金属家族中的主要成员，其具有高温稳定性、化学耐腐性优良等性质，在国防军事、航空航天、机械加工等领域一直发挥着重要作用[2]。目前在铝合金中掺杂少量难熔金属元素的研究较少，因此准确测定铝合金中难熔金属的含量具有重要意义。过去对难熔金属如铌、钼、钨、钽金属主要采用光度法，但是流程很长，元素干扰严重。由于电感耦合等离子体原子发射光谱法具有灵敏度高,检出限低，多元素同时分析能力，线性范围宽,基体干扰小等特点，特别适用于各类合金样品中金属元素的分析[3]。……