装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究

刘萌萌,苏 峰,宋成军

(中国航空综合技术研究所 质量工程中心，北京 100028)

装备电子设备边界扫描系列标准及测试性设计技术研究

刘萌萌,苏 峰,宋成军

(中国航空综合技术研究所 质量工程中心，北京 100028)

随着新一代电子产品的复杂化和密集程度的不断提高，电路和系统的可测试性急剧下降，传统测试技术已经不能满足需要;针对我国军用电子设备的测试及诊断工作需求，通过对IEEE1149系列边界扫描测试标准进行了研究分析，分析各标准的特征范围、适用对象、各标准相互关系，可以分析梳理IEEE1149标准在我国军用电子设备测试性设计中的可行性和适用性，探索得到将边界扫描技术在测试性设计上的应用思路;将边界扫描技术应用于电子设备不同范围的测试设计，能有效地解决传统测试性设计的问题，能够提升诊断能力，缩减产品生产周期及研制费用。

测试；边界扫描；测试性设计；标准；数模混合电路

0 引言

电子系统和设备的保障性能是影响各武器装备作战效能的关键因素，并且随着新一代武器装备的日益复杂化，新型装备在研制过程中必须更多地考虑到将来测试维护的要求。而当前，随着半导体工艺的持续进步，元器件朝着小型化、表面贴装(surface mounted technology，SMT)等特征发展，超大规模集成电路得到了大量的使用，这使得武器装备电子设备具有很高的集成度和数字化程度。该特点使得印制电路板上的芯片管脚越来越密集，管脚距离越来越小，有的甚至完全成为隐性的不可达节点，降低了电路节点的物理可访问性，电路和系统的可测试性急剧下降，传统的测试技术已经远远不能满足需要，这给装备电子设备的故障诊断和测试提出了严峻的挑战。……