磁共振灌注加权成像在糖尿病脑损害中的应用进展

王善诚，李澄，瞿航，杜芳*

磁共振灌注加权成像在糖尿病脑损害中的应用进展

王善诚1，李澄2，瞿航1，杜芳1*

糖尿病脑损害是糖尿病于中枢系统的并发症，脑灌注的异常是糖尿病脑损害的表现之一。磁共振灌注成像分为动态磁敏感对比增强、动态增强磁共振成像和动脉自旋标记3类，能够反映脑血流灌注等信息。随着磁共振灌注成像技术的不断发展，可以更早期、全面、准确地测量脑部微循环的改变及其所带来的中枢神经系统损害，特别是动脉自旋标记成像，作为非侵入性磁共振灌注成像技术，可以定量并重复测量脑血流量，更有效避免了使用外源性对比剂带来的风险，已逐渐成为糖尿病脑损害研究的有力工具。本文将围绕磁共振灌注成像在糖尿病脑损害中的研究与应用展开综述。

糖尿病脑损害；糖尿病脑病；糖尿病并发症；磁共振成像；磁共振灌注成像；动脉自旋标记

王善诚, 李澄, 瞿航, 等. 磁共振灌注加权成像在糖尿病脑损害中的应用进展.磁共振成像, 2017, 8(2): 155-160.

糖尿病(diabetes mellitus，DM)是一种常见的全身代谢性疾病，世界卫生组织(WHO)预计至2025年，全球糖尿患者人数将增至3亿。在我国，糖尿病患者以2型糖尿病(type 2 diabetes mellitus，T2DM)为主，达患病人群的95%以上[1]。糖尿病长期代谢紊乱所致的眼、肾脏、心脑血管及神经系统并发症是糖尿病患者致死、致残的主要原因，其中糖尿病所致的中枢神经系统损害发病较为隐匿，常不易被临床早期发现而失去最佳的治疗时机。近年来，磁共……