蒋 刚,邓旭聪,赵 明
(1.国网广安供电公司,广安 638000;2.四川大学电子信息学院,成都 610065)
晶闸管(SCR)由于其深回滞输出特性曲线、低导通电阻、高静电放电(ESD)泄流能力的特点,在ESD保护中得到越来越广泛的应用[1-2]。除了采用多个器件的组合方案来实现双向ESD保护之外,也可以用单向SCR的衍生器件来实现双向ESD保护,双向SCR器件内部是NPNPN结构[3]。为了对集成电路的输出端口形成有效保护,需要低触发电压的SCR放电管作为ESD保护器件[4]。对于低触发电压SCR放电管,在保证SCR放电管的开启速度不受影响的前提下,通过优化SCR放电管内部结构(如寄生晶体管基区结构、发射区结构、低电压触发结构等)的方法来降低SCR放电管的触发电压。
目前虽然关于ESD保护应用的SCR放电管设计及制备的文献报道较多,但是大多为分立垂直导通型结构,且触发电压较高(其触发电压一般在十几伏到几十伏之间),对于基于双极型集成电路工艺的横向低触发电压SCR放电管的报道较少。本文依据双向低触发电压横向SCR放电管电参数指标要求,利用利用Silvaco-TCAD半导体器件仿真软件对双向低触发电压横向SCR放电管结构参数进行仿真设计。探究了N-衬底区、寄生PNP晶体管P-集电区、寄生NPN晶体管P-基区、N+阴极区、N+触发区、寄生PNP晶体管P-集电区与寄生NPN晶体管P-基区间距、寄生NPN晶体管表面基区宽度对器件电学性能的影响。通过实际流片,研制出的样片的触发电压VS、触发电流IS、维持电流IH及触发电压、维持电流高低温变化率完全满足电参数指标要求。……