两种实验室方法模拟舰载平台环境下航空电路板的腐蚀行为

贾润川，李 明，朱 蒙，陈 宇，李 刚，骆 晨

（1.中国航空综合技术研究所，北京 100028；2.中国航发北京航空材料研究院，北京 100095）

舰载平台环境被认为是最严酷的腐蚀环境，不仅会受高温、高湿、高盐雾的海洋大气环境的影响，还会受到舰船、舰载机等的动力系统排放的尾气中所含的SO2、NOx等气体的污染[1]。使用中性盐雾、酸性盐雾试验方法往往无法准确复现舰载机材料、防护工艺等在舰载平台环境下服役时出现的腐蚀损伤问题，因此，美海军于20 世纪70～80 年代提出了盐雾/SO2试验方法[2]。相关研究显示，该试验方法对于典型航空用金属材料（4130高强度合金钢镀铬、40Cr-Ni-Si合金钢镀镍、2Al2铝合金导电氧化等）、橡胶材料（乙丙橡胶、丁腈橡胶）等在外场舰载平台环境下的腐蚀行为具有更好的相符性[3-4]。

舰载平台上，除结构材料、橡胶材料外，电子产品暴露出的腐蚀问题也越来越突出[5]。目前，已有的相关研究大部分都是基于海洋大气环境，而对舰载平台下的电子产品腐蚀问题的研究却相对较少。相关研究表明，我国现有标准中的中性盐雾试验方法对电路板的腐蚀损伤与海洋大气环境相比，具有一定的相似性，但并不能完全模拟电路板在海洋环境中出现的破坏行为和规律[6-7]，加之舰载平台与海洋大气环境因素存在差异，研究舰载平台下电路板的腐蚀失效机制，探索盐雾/SO2试验方法是否适用于模拟舰载平台环境下电子产品的腐蚀行为，是1个亟需解决的问题。

本文主要以2 种航空电路……