装备电子部件可靠贮存寿命统计预测方法研究

王新平，李 荣，王永东，王广昊

（1.中国人民解放军第五七一五工厂，河南 洛阳 471000；2.中国人民解放军 93128 部队，北京 100843；3.中国人民解放军 93131 部队，北京 100843）

电子部件是精确制导装备的重要组成部分，其贮存可靠性很大程度上决定了精确制导弹药的贮存可靠性。装备延寿中，利用可测电子部件的统计数据进行电子部件可靠贮存寿命预测研究是装备延寿研究的重要内容。通常确定产品寿命服从何种分布通常有两类方法，一类方法是根据失效机理和工程经验分析论证寿命服从何种分布；另一类方法是根据数理统计理论利用寿命数据做分布拟合。考虑到产品统计数据中往往缺少失效机理信息，因此，本文重点介绍采用标准寿命表法进行贮存可靠性统计，按照指数分布或威布尔分布进行拟合，进行线性相关系数的计算，开展拟合优度检验和异常值检验等工作，确定产品寿命分布函数，进而预测产品未来的贮存可靠度和可靠贮存寿命的方法。

1 根据标准寿命表法计算产品的可靠度

以贮存可靠度、贮存故障率作为分析结果的表征参数，以衡量产品的可靠性水平。贮存可靠度、贮存故障率等2 项参数的解释及说明如下：

（1）贮存可靠度R（t），即在规定的条件下，在贮存第t 年时导弹不发生故障的概率。

（2）贮存故障率λ（t），即在规定条件下，在贮存第t-1 年时仍未发生故障的导弹在贮存第t 年时发生故障的概率。

两者之间的换算关系如下：

式中：n 为参加试验的样品总数；……