基于直线倒立摆的自控实验平台研究

2021-03-04 08:41邓春花
实验技术与管理 2021年1期
关键词:摆杆滑块闭环

易 磊,张 蓉,邓春花,尹 仕

(华中科技大学 电气与电子工程学院,湖北 武汉 430074)

传统自动控制原理实验多采用实验箱作为研究对象,系统相对封闭,缺少工程背景,开设的多是验证性实验,无法提高学生的设计和创新能力。针对以上问题,部分高校选用产品级的运动控制对象,如倒立摆、平衡车等进行实验教学。倒立摆作为一个复杂、非线性、多变量、强耦合的系统,能有效反映自动控制系统中稳定性、快速性等指标,是开设综合性试验的良好实验平台[1-2]。

然而现有的倒立摆实验平台占地空间大、价格贵,控制器接口封闭[3]。为此本文设计出结构紧凑,硬件可视化、接口开放化、模块化的倒立摆实验平台。通过开放接口可兼容不同微处理器,在实现层次性学习的同时,营造开放、多元的实验环境,模块化结构有利于提高学生设计、应用及创新的能力,培养学生解决实际工程问题的能力。

本文首先构建基于微处理器的直线倒立摆实验平台,建立了直线倒立摆数学模型,搭建了倒立摆控制系统,利用根轨迹法和 SISO工具相结合的方法完成位置环和角度环控制器设计与仿真,然后对控制系统进行仿真与波形分析,最后完成软硬件实验平台测试与分析。

1 直线倒立摆平台和控制系统

直线倒立摆实验平台如图1所示,包括控制器和倒立摆。其中倒立摆由直流电机、编码器、带轮、同步带、滑块、角位移传感器、匀质摆杆、限位开关及导轨等部件组成。控制器由微处理器 MCU核心板、采样调理板、电机驱动板和OLED显示屏等构成。

图1 直线倒立摆实验平台实物图

直线倒立摆控制系统由减速直流电机驱动带轮旋转,带轮连接同步带后带动滑块水平运动,通过控制滑块的运动位置实现对摆杆的角度控制。控制器通过编码器和角位移传感器采集滑块位置x和摆杆角度φ反馈信息,采用位置和角度闭环控制算法输出控制信号,经驱动电路放大后驱动直流电机运动。控制系统结构如图2所示。

图2 直线倒立摆控制系统结构图

图2中,采用微处理器实现系统数字闭环控制,位置信号通过正交编码器(QEP)计算得到,角度通过模拟数字转换器(ADC)采样,经过数字调节器闭环控制后由定时器发出脉宽调制(PWM)信号控制直流电机运动,辅助电源提供3.3、5、15 V电压给相应芯片。

2 直线倒立摆数学模型

在分析和设计控制器时,首先要建立被控对象的数学模型。本文采用牛顿第二定律和刚体转动定律进行直线倒立摆建模,在实际建模过程中进行如下假设:

(1)将系统抽象成滑块和匀质摆杆组成,无形变;

(2)带轮与同步带无滑动摩檫,且同步带无伸长;

(3)忽略摆杆和支点及各接触环节的摩擦力。

简化后的直线倒立摆物理模型如图3所示[4-6]。

图3 直线倒立摆物理模型

图3中,F为滑块受直流电机驱动力,x为位移,l为匀质摆杆质心与支点距离,φ为摆杆与垂直方向的夹角,m和M分别为匀质摆杆和滑块的质量,N和P分别为滑块与摆杆之间水平和垂直方向作用力大小。

现对滑块进行水平受力分析:

摆杆水平受力分析:

摆杆垂直受力分析:

摆杆绕重心转动方程:

式中J为摆杆转动惯量。

考虑φ在(-10°, 10°)调节,近似有:

式(2)―(4)可简化为:

将式(6)、(7)代入式(1)、(8)可得:

对式(9)经拉氏变换后整理得倒立摆传递函数:

从式(10)可知,F和x决定了φ,通过控制F和x可实现倒立摆直立控制。本直线倒立摆物理参数为M= 0.227 5 kg;m=0.092 3 kg;l=0.185 m;J=0.004 2 kg·m2;g=9.8 m/s2。将这些参数代入式(10)后得φ和F之间的传递函数为:

x和φ之间的传递函数为:

从式(11)可知,直线倒立摆是一个二阶的系统,系统存在2个极点,分别位于原点两侧,因此系统是不稳定的。当系统受到外界干扰时将无法维持原有平衡状态,因此为实现倒立摆直立控制,必须引入反馈以形成闭环控制,同时为改善系统性能指标,需要加入校正控制器。

3 控制器设计与仿真

3.1 控制系统设计

根据控制对象和性能指标要求,控制器选用串联校正的方式以改善系统性能,构建的直线倒立摆位置角度控制系统框图如图 4所示。控制器为Gc1(s)、Gc2(s)。

图4 直线倒立摆位置角度控制系统框图

位置给定信号xref与位置反馈信号x计算误差运算,经控制器Gc2(s)输出,角度给定信号φref与角度反馈信号φ作差后经控制器Gc1(s)输出扰动量Δ,位置环输出与扰动量Δ相减后作用到被控对象倒立摆,由此实现滑块位置控制和摆杆的直立控制。

当φref=0时,图4可简化为图5所示位置和角度双闭环结构。

图5中,控制器设计的好坏直接影响校正后倒立摆系统的性能指标,其中串联校正控制器多采用PI、PD和 PID等控制方式,而控制参数的设计方法有解析法、根轨迹法、频域分析法及状态空间法等。本文根据被控对象和控制系统结构,决定采用 PD控制算法,利用根轨迹法设计比例和微分参数[7]。

图5 直线倒立摆位置角度双闭环控制系统

3.2 角度环PD控制器设计

对于图5中双环控制系统,首先利用根轨迹法对角度环控制器Gc1(s)进行 PD参数设计。角度环被控对象传递函数G1(s)为:

对应双实数极点+5.1、-5.1。

现对式(13)进行校正,角度环控制器Gc1(s)为:

其中,Kp1为角度环控制器比例参数,Kd1为角度环控制器微分参数。

为达到系统稳定性,即系统闭环极点位于S坐标系左半平面,在设计 PD控制器时,将控制器零点设计在左实数极点-5.1位置处,即

将式(15)代入式(14)得到校正后角度开环传递函数:

校正后系统闭环特征方程为:

系统闭环极点为-5.1和5.1-1.626 8Kp1,为满足极点位于左半平面,要求:

对于 0型系统,单位阶跃输入下稳态输出c(t),由式(15)可得:

按照校正后系统稳态误差<5%的要求,计算得到Kp1< 4 .18。

选取Kp1=4.15

最终得到角度环控制器Gc1(s)为:

校正后角度环闭环传递函数Gb1(s)为:

在MATLAB命令窗口调用相应的指令函数[8],得到对应校正后角度环闭环极点根轨迹如图6所示。

图6 校正后角度环根轨迹

校正后角度的单位阶跃响应曲线如图7所示。

图7 校正后角度环阶跃响应曲线

从图6、7可知,校正后角度环闭环极点满足稳定性条件且阶跃响应稳态误差很小,说明角度环 PD控制器设计具有可行性,可以实现直立控制。

3.3 位置环PD控制器设计

将角度环Gb1(s)等效为二阶惯性环节,可以将图5简化为图8。

图8 简化后直线倒立摆控制系统

图8中校正前开环传递函数为:

从式(21)可知,位置环校正前存在4个开环极点和2个开环零点,极点为2个原点、-5.1和-1.626 5,零点为+4.77和-4.77。其中一条根轨迹起于原点,终于零点+4.77,可知在这条根轨迹上的闭环极点位于坐标系右半平面,因此系统是不稳定的。

现对式(21)进行校正,位置环控制器Gc2(s)为:

式中Kp2为位置环控制器比例参数,Kd2为位置环控制器微分参数。

考虑到控制对象的复杂性,引入 MATLAB图形化单输入单输出设计工具 SISO进行控制器波特图和根轨迹设计,SISO可手动设置控制器零点和极点位置,并实时显示单位阶跃响应曲线和根轨迹等。

在 MATLAB命令窗口输入式(21)被控对象传递函数,然后启动 SISO图形化设计窗口,设置上升时间为2 s,调节时间为5 s,超调量为10%,在根轨迹图形中选择加入零点,并将零点位置放置在-0.05处,保证闭环极点处于左半平面。最后拖动波特图中波形上下移动,调整增益以满足参数要求。

设计完成后,位置环控制器Gc2(s)为:

位置环控制器设计完成后,对应校正后位置环闭环极点如图9所示。

图9 校正后位置环根轨迹

校正后位置阶跃响应曲线如图10所示。

图10 校正后位置环阶跃响应曲线

从图9、10可知,校正后位置环闭环极点满足稳定性条件且能快速稳定,说明位置环PD控制器设计具有可行性,可以实现位置控制。

基于以上根轨迹法和 SISO工具设计完成位置环和角度环PD控制器,在Simulink搭建系统闭环控制仿真模型如图 11所示。图 11中角度环 PD控制器Gc1(s)和位置环PD控制器Gc2(s)参数如前所述,控制对象传递函数如式(11)、(12)所示,位置给定为单位阶跃信号,角度给定为0。

图11 校正后系统闭环控制仿真模型

对图11闭环控制系统进行仿真,得到对应角度和位置仿真结果如图12所示。可以看到,位置和角度均能快速稳定,并且位置稳态误差满足指标要求,角度跟踪效果较好。说明位置环和角度环控制器设计具有可行性,控制系统能实现位置和角度控制。

图12 校正后位置和角度仿真波形

4 系统软硬件平台

4.1 最小系统设计

主控芯片采用意法半导体公司生产的 32位微处理器STM32F103,工作频率为72 MHz,工作电压为3.3 V,自带两路12位的ADC转换器,支持SPI、I2C、CAN,具有多达7个定时器模块,每个定时器模块都可产生PWM控制信号。

4.2 位置检测电路设计

摆杆位置通过阻值为5 kΩ(误差±15%)、独立线性度为0.1%的可调电位器检测,由主控板ADC接口采样分压电阻电压,从而获得摆杆位置。

电机位置由带A、B相的光电编码器检测,线数为 500。主控板正交编码器接口通过边沿计数的方式对A、B两路脉冲进行计数,通过程序读取计数器的数值获得电机位置[9-10]。

4.3 电机驱动电路设计

电机驱动电路采用英飞凌生产的BTN7960芯片,单个芯片内部包含一个P沟道高端MOS管和一个N沟道低端 MOS管组成的半桥结构,此外还集成有驱动电路,可直接通过主控板输出PWM信号控制开关管的通断。采用两片BTN7960组成一个全桥结构,外接负载为直流电机,通过控制PWM占空比和电平实现电机正反转运行,进而控制滑块位置。

4.4 程序设计

采用keil5进行STM32程序开发,主要使用的外设包括:ADC、高级定时器TIM1、通用定时器TIM2正交编码器接口、TIM3定时中断、SPI、USART等。主程序主要完成外设初始化和工作模式设定,之后进入死循环,其中TIM3设定为每5 ms产生一次中断并执行中断服务程序,TIM2设置为边沿计数读取编码器信号,TIM1计数器设置为增计数,PWM开关频率为 10 kHz。

TIM3中断服务程序如图13所示。

图13 倒立摆中断服务程序

中断服务程序每5 ms执行一次,角度环执行周期为5 ms,位置环执行周期为25 ms,角度和位置环输出相减后赋值给定时器的比较器,从而控制PWM占空比输出。

5 实验测试与结果分析

5.1 直立控制实验

在倒立摆实验平台上,对摆杆进行直立控制实验,先保持摆杆处于垂直向下的状态,开机后通过手动起摆的方式将摆杆拉至向上直立的状态,松开手后控制器通过位置环和角度环控制电机旋转,进而控制摆杆处于直立状态。

实验过程中通过上位机每50 ms采集一次摆杆角度和滑块的位置信号,并对数据处理后绘制成相应波形,最终得到滑块位置和摆杆角度波形分别如图 14和15所示。

图14 稳态时滑块位置波形

图15 稳态时摆杆角度波形

当滑块处于中心位置,脉冲为 0。滑块其他位置的脉冲数通过编码器获取,然后拖动系统进行确定。可以看到,系统能快速到达给定位置和角度,并且滑块和摆杆均能稳定在系统期望值附近,且稳态误差较小。以上实验说明所采用的控制系统能保证控制对象稳定运行,且满足设计要求。

5.2 抗扰动实验

在实验平台上进行抗扰动实验,在系统处于稳定状态后,通过手动拨动摆杆的方式加入2次较小的扰动,上位机每50 ms采集一次信号并对数据处理后绘制成相应波形,最终得到扰动过程下的滑块位置和摆杆角度波形分别如图16和17所示。

图16 扰动过程下滑块位置波形

通过图16和17可知,摆杆和滑块初始处于稳定状态,在1.5和7.5 s突加扰动后摆杆和滑块在控制器作用下进行调整,经过2 s后又能恢复到初始状态,并最终稳定在期望值。说明控制系统具有一定的抗干扰能力,所设计的控制器满足实验要求。

图17 扰动过程下摆杆角度波形

6 结语

本文设计了一种基于微处理器的直线倒立摆控制系统,可实现摆杆直立控制和滑块的位置控制,能满足综合性实验教学要求,有助于提高学生设计与工程应用能力。

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