由西安工业大学自行设计、研制的非球面面形检测系统是在横向剪切干涉的技术基础上,用压电陶瓷引入相移,通过采集卡和CCD获取系列剪切干涉条纹图像。经过计算机对系列扫描条纹图像的数学处理,实现了对光学非球面的快速、抗干扰、高精度测量。涵盖光学/光电研究院所、光学/光电子元器件生产企业等应用领域。开发具有独立知识产权的非球面面形检测系统,不仅可以解决光学领域的非球面测量难题,而且能够节约大量的外汇资源。目前样机已经开发,作为精密光学测量系统,生产规模不大,但对社会的贡献明显。
西安工业大学学报2022年1期
1《现代经济信息》2024年5期
2《中国中医药现代远程教育》2024年10期
3《创新创业理论研究与实践》2024年5期
4《江苏农业科学》2024年7期
5《吉林医学》2024年3期
6《电气技术与经济》2024年3期
7《影像研究与医学应用》2024年5期
8《安徽教育科研》2024年13期
9《北京文学·中篇小说月报》2024年5期
10《经济技术协作信息》2024年2期