X 射线荧光光谱法分析地质样品的应用技巧

邢亮

（唐山首信自动化信息技术有限公司，河北 唐山 063200）

X 射线荧光光谱(xRF)测定技术的重要意义不仅因为它是主量、次量元素分析精度、准确度和自动化程度高，还由于该仪器在测定地质样品时采用的粉末压片法无需将试样进行酸碱分解处理，是一种对环境无污染的绿色分析技术。在今后相当长的时间内XRF 将是优越于其他大型仪器，测定多种材料主量、次量和部分微量元素的主导分析手段之一。关于这些元素的XRF 分析问题如样品制备方法、测量条件选择、元素间的吸收增强等,大多数元素的分析方法已相当成熟，但对于某些元素测量条件的选择技巧、标准曲线的合理分段、正确选择校正项等问题研究相对较少，而且应该根据具体元素具体分析。

一、X 射线荧光光谱法

X 射线荧光光谱分析法，简称XRF 技术，这种技术是利用X 射线来照射待测物质中的原子，让其产生次级X 射线，然后对其中的物质成分和化学物态进行分析研究的方法。随着现代信息技术及相关软件的发展，XRF 技术在各个领域均得到了飞速发展。由于X 射线荧光光谱分析法不会破坏测试样品的完整性及准确的测试结果，在地质样品检测分析中的应用越来越广泛。波的长度跟元素是一一对应的关系。目前我们常用的有三种仪器，一是波长色散型X 射线荧光光谱仪，他可以通过检测器的转动角度来确定元素的种类。二是能量色散型X 射线荧光光谱仪，他可以通过通道的能量来判别元素的种类和成分。……