电感耦合等离子体原子发射光谱法分析25种元素对磷的光谱干扰及其校正

张晓燕，关宁昕，张桂芬，曹昆武

（核工业理化工程研究院，天津 300180）

电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP–OES）是20世纪60年代发展起来的一类发射光谱分析方法，具有检出限低、线性范围宽、精密度和准确度高、可进行多元素同时测定、操作过程快速简便等特点，在材料分析、环境分析、航空航天、建筑等领域中均具有十分广泛的应用［1］。

利用ICP–OES法对磷（P）元素进行定量检测，常用的分析线有 177.434、178.221、213.617、214.914 nm［2–10］。其中，177.434、178.287 nm处于远紫外区，光谱干扰较小，但在使用前，需用高纯氮气或氩气对检测器进行长时间吹扫，以排除空气中氧的干扰，从而增加了使用成本，且检出限和灵敏度不佳［7］；213.617、214.914 nm则无需进行吹扫，但光谱强度相对较低，光谱干扰情况较为复杂，极易与其它元素发生谱线重叠，需利用干扰系数校正、MSF校正等方法［11］对结果进行处理。尤其当样品中P元素的含量处在痕量及微量浓度范围时，多种元素的谱线重叠使得P元素的准确测量十分困难。近年使用MSF校正法针对Fe、Cu对P进行校正的文献较多［2，12–13］，而 对 其 它 可 能 存 在 的 干 扰 元 素 进 行全面排查的文献较少。李帆［14］等利用JY 170 ULTRACE型等离子体发射光谱仪对23种元素进行了光谱干扰研究并计算出干扰水平，但未涉及P元素。胡麟［15］等利用IRIS A 1000型电感耦合等离子体发射光谱仪仅针对Mo和Cu对P的干扰影响进行了试验，未对其它元素进行试验。

笔者利用干扰系数法，将铍（Be）、硼（B）、镁（Mg）、铝（Al）、硅（Si）、钙（Ca）、钪（Sc）、钛（Ti）、钒（V）、铬（Cr）、锰（Mn）、铁（Fe）、钴（Co）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、砷（As）、铌（Nb）、钼（Mo）、锡（Sn）、锑（Sb）、钡（Ba）、钨（W）、铅（Pb）、铋（Bi）这25种元素对P元素的光谱干扰情况进行了分析，计算出各元素干扰系数。……