基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

季伟伟，倪晓东，张凯虹，杜元勋

（中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏无锡214035）

基于J750EX测试系统的大容量NOR型FLASH测试方法

季伟伟，倪晓东，张凯虹，杜元勋

（中国电子科技集团公司第五十八研究所，江苏无锡214035）

NOR型FLASH存储器因其技术显著的高可靠性、能长久存储代码数据的非易失性（Non-Volatile）特点，在关注可靠性胜过性价比的军工和航空航天领域应用十分广泛。但由于此类器件在线编程及擦除操作较繁琐，从而使得利用自动测试系统对其进行测试具有较高难度。因此，探索NOR型FLASH存储器的测试技术，并开发此类器件的测试平台具有十分重要的意义。首先以MICRON公司的PC28F00AM29EW为例，介绍了NOR型FLASH存储器的基本工作原理，接着详细阐述了一种采用J750EX测试系统的DSIO模块结合FLASH分块操作的测试方法，从而能够更简便、高效地对NOR型FLASH存储器的功能进行评价。

NOR型FLASH；DSIO；J750EX

1 概述

FLASH(FLASH Memory，闪存)作为在ROM、EPROM、EEPROM等几种非易失性存储器技术基础上发展而来的新型存储技术，集非易失性存储器的特点，为目前非易失性半导体存储器的主流。与EPROM相比，FLASH具有不需要特殊的高电压、系统电可擦除和可重复编程等优势；与EEPROM相比，具有成本低、密度大的特点。随着技术的发展，NOR型FLASH具备芯片内执行（XIP，eXecute In Place）性能等带给系统启动速度快和低功耗的特点，在大容量数据代码存储方面占有重要地位。同时，XIP的特性决定其无法直接对地址单元进行读写操作，随写随读，这使得对于此类大容量器件的测试具有一定难度。本文介绍了基于Teradyne公司J750EX测试系统的DSIO模块来实现对NOR型FLASH性能评价的测试方案。……