钕基体效应对电感耦合等离子体发射光谱法测定9种微量金属杂质的影响

安晓娇，徐梦恬

（核工业理化工程研究院，天津 300180）

钕元素是门捷列夫元素周期表中的镧系元素，属于典型的轻稀土元素，具有未充满的4f电子层结构，并由此呈现出独特的物理和化学性能，在电子和光学等高科技领域有着广泛应用。稀土金属钕中非稀土金属杂质的检测是其生产及应用过程的至关重要环节，尤其是钕含量较高且钕及微量金属元素含量均存在动态变化的工艺过程中，因此快速、准确测定高含量钕中微量金属元素十分有必要。

目前钕中金属杂质的测量方法有多种，如原子吸收法、分光光度计法、X射线荧光谱(XRF)法［1–2］、中子活化分析（NAA）法［3–4］、电感耦合等离子体质谱（ICP–MS）法［5–6］和电感耦合等离子体发射光谱（ICP–OES）法。其中原子吸收法或分光光度计法必须对试样进行繁杂的前处理，且每一杂质元素均需逐个进行测定，因此分析过程繁琐、周期长、消耗试剂多、易引入干扰；XRF法在稀土样品科研及生产检测中均有广泛应用，但XRF法分析灵敏度较低，对于样品中微量或痕量元素的分析存在局限性；NAA法有非破坏并能同时分析多个元素的优点，尤其在同时测定多种稀土元素时具有一定优势，然而此类仪器测试时间较长、费用昂贵，且需要核反应堆支持，因此很少用于常规样品的分析检测；ICP–MS法和ICP–OES法均可同时测定多种金属元素，具有检出限低的显著优势。其中ICP–MS法测试方法具有更高的灵敏度和更低的检出限，广泛用于稀土产品的痕量杂质分析［7］。然而，ICP–MS法测试中很难避免产生“同质异序素”的谱线重叠，一般需要采用碰撞反应池［8］来降低质谱干扰。……