磁共振扩散张量成像诊断轻度创伤性脑损伤的价值

滕陈迪 周小青 付垚 郑文龙*

创伤性脑损伤（TBI）是临床常见的神经外科疾病，是外力引起的创伤性结构损伤和/或脑功能障碍。TBI按临床症状、体征分为轻、中、重三型，以轻型创伤性脑损伤（mTBI）最常见，约占TBI 的70%～90%。mTBI症状轻微，CT 检查可呈假阴性，因此临床常未给予足够重视，但可在伤后存在持久的躯体、认知和行为损害症状，严重者甚至会造成终身残疾。本文探讨磁共振扩散张量成像（DTI）在mTBI 中的诊断价值，为临床早期诊断、合理治疗提供影像学依据。

1 资料与方法

1.1 临床资料 收集2018 年12 月至2020 年6 月本院mTBI 患者30 例、正常对照组30 例。mTBI 患者纳入标准：有明确外伤史，外伤时间在1 周内；年龄10～60岁；伴或不伴意识丧失（伴意识丧失，持续时间<30 min）；外伤后遗忘，持续时间<24 h；头颅CT 检查未见明显异常。排除标准：外伤时间>1 周；中、重型颅脑外伤或既往颅脑外伤史；精神疾病史；CT 或MR 检查发现颅内肿瘤、感染、出血等疾病；造成认知改变的药物成瘾者。正常对照组纳入和排除标准：年龄、性别与mTBI组匹配；无既往颅脑外伤史、精神疾病史、药物成瘾史。CT 或常规MR 检查未见异常。两组受检者均被告知检查的目的、方式、过程、注意事项，以取得受检者最大的配合，以免造成人为检查误差。本项目经本院伦理委员会批准，患者签署知情同意书。

1.2 方法（1）扫描检查：利用GE Signa HDxt 3.0T MR成像系统，8 通道头部相控阵线圈，行颅脑MR 扫描。常规横断位T1WI 序列（TR 2125 ms，TE 24 ms）、横断位和矢状位（FSE）T2WI（TR 4300 ms，TE 120 ms）或矢状位T1WI 序列（TR 2125 ms，TE 24 ms）、横断位T2WI FLAIR（TR 7200 ms，TE 165 ms）和DWI（TR 5700 ms，TE 80 ms，弥散敏感系数b 值1000 s/mm2）。DTI 序列横断位扫描参数：采用梯度回波-回波平面成像（GRE-EPI）序列进行DTI 扫描，层厚4 mm，层间距0 mm，矩阵128×128，FOV240 mm×240 mm，b 值为1000 s/mm2（采集16 个方向）。（2）后处理：DTI 原始数据传至AW4.6 后处理工作站，采用Footbool 软件包中的Tensor 软件，对扩散张量成像数据进行校正，构建各向异性图（FA 图）。……