漏率

  • 基于静态压降法量化表征某型贮箱气密性方法研究
    漏检测;气密性;漏率;压降火箭研制过程涉及大量有密封性能要求的组件或部件,如推进剂燃料贮箱,其气密性能优劣直接关系到火箭发射的成败[1-4]。国内外因泄漏造成的事故屡见不鲜,如阿波罗-13飞船因氧贮箱发生泄漏而使任务中断,挑战者号航天飞机因燃料泄漏机毁人亡[5-6]。某型运载火箭在靶场测试中,对贮箱的气密性能进行评估无疑是一项极其重要的测试工作。容器气密性检测技术属于气体泄漏检测中的一种[7-9],气密性检测的方法有水浸法、皂泡法、压力变化法、流量法、超声

    装备环境工程 2023年6期2023-07-07

  • 基于氧化石墨烯薄膜的极小漏率漏孔制备技术研究
    3/s量级的极小漏率标准漏孔是超灵敏度检漏技术的核心[1-2]。真空技术中较为常用的石英渗氦标准漏孔一般带有1.01×105Pa(1个大气压)的纯氦气源,其下限只能达到10-11~10-5Pa·m3/s量级[3-4]。近年来国内外学者开展了各类新型漏孔的研究。Yoshida等[5]采用孔隙小于1 μm的不锈钢烧结型过滤器作为漏孔元件,当上游压力低于104Pa时,漏孔内气体运动方式为分子流,研制的标准漏孔漏率范围为10-8~10-6Pa·m3/s。Ierar

    真空与低温 2023年1期2023-02-14

  • 一种双密封结构稳定漏率判定方法
    常常出现示漏气体漏率缓慢爬升的现象,两道密封处的初始漏率越小,稳定平衡时间越长。针对双密封结构漏率测试的时间以及稳定漏率的判定,目前没有明确统一的方法,导致检漏结果不一致,特别是在稳定漏率略超出允许漏率,导致产品拒收时,分歧尤为突出[1-2]。本文提出一种稳定漏率判定方法,通过建立漏率的增长模型,合理确定检漏时间,可以在示漏气体漏率曲线未平衡稳定的情况下预判稳定漏率,提高检漏效率。1 双密封结构泄漏规律1.1 双密封结构泄漏模型及数值分析双密封结构原理和泄

    真空与低温 2022年6期2023-01-06

  • 毛细管型真空漏孔及其计量特性研究
    检漏,需要用已知漏率的真空漏孔对检漏仪灵敏度进行校准。薄膜渗透型真空漏孔因其对污染不敏感、长时间内漏率稳定、可以获得很小漏率等特点[2],应用十分广泛;但是其具有受温度影响大、玻璃元件易碎、不能承受机械冲击、易发生累积渗透饱和等缺点。为了减小温度影响,增加抗震能力,研制一种毛细管型真空漏孔,具有温度系数小、年衰减率小、响应时间快、抗震和抗摔等特点。1 毛细管型真空漏孔的结构组成毛细管型真空漏孔是一种利用毛细管特性产生恒定气体漏率的装置,可作为真空检漏中氦质

    真空与低温 2022年6期2023-01-06

  • 不锈钢玻封连接器密封失效分析及改进
    温度冲击后,出现漏率上升的问题。针对此问题,分析了温冲后漏率上升的原因,找到了提高封接组件温冲后漏率的工艺方法,提高了产品的可靠性。2 不锈钢密封连接器漏率失效原因分析2.1 不锈钢压缩封接机理不锈钢由于具有良好的机械性能、高耐磨性、较强的抗腐蚀能力等优点,广泛用于军工产品零件的加工。在高密封连接器生产过程中常选择不锈钢材料做为壳体进行封接,不锈钢壳体玻璃封接组件是由奥氏体不锈钢壳体、玻璃坯、铁镍合金插针在氮气保护下高温封接而成,不锈钢壳体玻璃封接组件属于

    机电元件 2022年4期2022-08-31

  • 硅铝合金壳体焊接连接器气密性分析
    漏手段有最小可检漏率,通常所说的“不漏”正是相对于此而言的。或者设备容许漏率远大于被检件的漏率,也可认为被检件“不漏”。随着科学技术的进步,气泡法、涂抹法、浸水法等传统气密性检测方法在很多领域都已经不再使用。更多先进的气密性检测方法是利用物质的物理特性和化学特性进行检漏,典型的有卤素法、氦质谱法、超声检测法、四极质谱计法、声发射法等。在微波领域,常用的气密性检测方法是氦质谱法。氦质谱法是以氦气为示踪气体,使用质谱分析仪进行气密性检测的一种检漏方法。其基本原

    制导与引信 2022年2期2022-07-22

  • 基于不同气体和压力下通道型正压标准漏孔漏率的分析
    道型正压标准漏孔漏率值的因素主要有气体类型和进口端压力以及气体的温度[3,4]。不同气体类型对漏孔的漏率值有很大影响,有学者使用真空标准漏孔在H2、He、D2三种气体以及不同的入口端压力下研究了本底漏率对校准漏孔漏率的影响,发现漏孔漏率与气体黏度成反比这一结论[5]。与此同时,研究者用N2和He2两种气体对同一个金属压扁型正压漏孔的漏率进行了不同压力下的研究,并根据黏滞流-分子流理论对结果作了修正[6]。此外,还有学者研究了同一气体在多种压力下金属压扁型正

    上海计量测试 2022年1期2022-03-24

  • 火箭总装过程中阀门漏率差压法检测技术研究
    的薄弱环节,阀门漏率超标导致的增压输送系统质量问题时有发生[2-4]。火箭总装完成后,在各工况下的气密性实验是型号产品阀门装配后质量的最终验证工序,用以检验其连接及阀门质量的可靠性。阀门的泄漏检测是预防阀门工作过程中出现质量问题的有效手段,因此必须特别重视阀门的泄漏问题,应列为防漏检漏工作的重点。1 阀门差压检漏技术差压检漏法相比于直压检漏方法检漏分辨率更高、检测时间更短,而且能够有效降低检测过程中产品形变、温度变化等带来的影响。因此,针对阀门漏率量化检测

    机械工程与自动化 2022年1期2022-03-15

  • 低温发动机常用氦质谱检漏方法
    ,若发现被检位置漏率超标,则需对漏率超标部位进行处理,避免低温发动机在工作时发生泄漏事故。低温发动机采用氦质谱检漏技术进行泄漏检测的几种常用方法。1 氦质谱检漏原理氦质谱检漏是以氦气为示漏气体,通过使用氦质谱检漏仪对被检件进行漏孔定位、漏率定量的检测过程。氦质谱检漏仪的主要结构为质谱室,质谱室由灯丝、离化室和离子加速极组成离子源,由外加均匀磁场构成分析器,由出口缝隙和收集极构成收集器,如图1 所示。图1 氦质谱检漏仪质谱室在离化室内,气体分子被由灯丝发射的

    装备制造技术 2022年11期2022-02-10

  • 一种快速堵漏胶修补方式在空间环境下的应用研究
    较航天器密封结构漏率,为空间站的在轨安全运行和航天员的人身安全提供保障。1 实验1.1 材料及仪器设备“创可贴式”快速堵漏胶(纤维增强、铝箔增强,中国科学院长春应用化学研究所);真空平板试验工装(Φ5 mm、Φ3 mm、Φ1 mm,自制);加压腔体试验工装(Φ5 mm、Φ3 mm、Φ1 mm,自制);氦质谱真空检漏仪(UL1000,德国INFICON)。1.2 试样准备与测试1.2.1 真空试验件用酒精将30件真空平板试验工装的粘贴面擦拭干净并晾干,分别将

    现代盐化工 2022年6期2022-02-09

  • 核电站主控室内漏率试验案例研究
    ,即进行主控室内漏率试验[1-2],以保证事故工况下主控室人员受到的辐射在可接受范围内。美国ASTM E741—2011[3]推荐了三种测量空间泄漏率的方法,即:(1)浓度衰减法;(2)恒量注入法;(3)恒定浓度法。根据相关论文论证[4-5],此三种方法均可对主控室的内漏率进行测量,综合对比三种试验方法的优缺点和国内相关行业借鉴经验[6],主控室内漏率试验采用恒量注入法进行测量。本文主要针对内漏率试验的原理、试验过程和问题处理及改进进行研究,对于试验方法等

    辐射防护 2021年6期2021-12-06

  • 光学检漏的试验时间问题
    给出了光学检漏的漏率计算公式[1],之后该检漏方法得以快速推广应用。我国军用标准GJB 548B-2005“微电子器件试验方法和程序”中第5节的方法1014.2引入光学粗检漏(试验条件C4)、光学粗/细检漏(试验条件C5)。正在修订中的GJB 548C也直接引用了STD-MIL-883J中关于光学检漏试验方法的最新规定,但其应用才刚刚起步。STD-MIL-883J虽然给出了光学检漏的漏率计算公式,但对于光学检漏的试验时间、压力等均未明确规定,与传统氦质谱细

    真空与低温 2021年6期2021-12-02

  • 气氛置换法对缓解硅铝封装氦气吸附影响研究
    谱检漏仪进行动态漏率或累计漏率测试。氦气对硅铝器件表面的吸附,主要发生在加压和保压时间内。其中,吸附过程包括两种类型的吸附,分别是外扩散和内扩散。由于氦气分子的体积较小,其吸附过程主要分为以下3个阶段。a)氦气从气流主体通过硅铝材料周围的气膜在范德华力的作用下扩散到硅铝的外表面,为外扩散或外部传递过程。b)氦气从硅铝材料表面经微孔扩散到吸附剂孔隙内部,被称为内扩散或孔内部传递过程。因硅铝材料表面曲折的晶界和机械加工过程中硅单质表面形成的裂纹使其容易发生内扩

    电子产品可靠性与环境试验 2021年5期2021-11-12

  • 气密封连接器氦气吸附问题的分析研究
    ,气密封连接器的漏率要求为:≤ 1×10-9Pa·m3/s。根据气密封连接器的实际应用情况,当中空密封器件盒安装若干个气密封连接器后,进行器件盒密封性能测试,整体漏率要求为:≤ 1×10-9Pa·m3/s。3 结构设计3.1 气密封连接器的结构对于气密封连接器常规结构如图1所示:外导体、内导体、玻璃高温烧结为一体以达到整个产品的密封要求,绝缘子采用过盈压配的方法压入外壳中,最后将一个带有倒刺的插孔压入绝缘子,完成整个产品的装配,插孔的右端为一小孔,与内导体

    机电元件 2021年4期2021-10-20

  • 卸料通道阀门泄漏对铀浓缩分离功率的影响研究
    ·mol-1。若漏率越大,则一组卸料系统因阀门通道有漏导致超限用时就越短,本文为了分析漏率对级联系统的影响,实验中取了几千个点进行计算,因篇幅有限,以下只描述了漏率为v1=1.21×10-5F、v2=1.21×10-4F、v3=1.21×10-3F三种不同量级的情况,F是级联总供料流量。2 未考虑漏率的级联计算分析根据《核工程导论第二部分铀浓缩的主要方法介绍》,设计模拟实验离心级联如图2所示[6]。图2 离心级联层架结构图Fig.2 Structure d

    核技术 2021年8期2021-08-20

  • 径向孔形状对针栓式喷注器液膜下漏率的影响
    流量的比例(即下漏率)是研究如何提高针栓头抗烧蚀能力的关键。针对以上问题,本文以准确预估下漏率为切入点,以平面针栓多喷注单元为研究对象,基于前期针对径向圆孔液束建立的考虑液膜液束变形和多喷注单元间相互影响的下漏率模型,首先通过类比分析,理论推导建立径向矩形孔的膜束各自相对变形模型;再推导建立对应的不同高宽比矩形孔的下漏率模型;然后通过试验及数值仿真对不同径向孔形状的下漏率模型进行验证;最后通过对比分析为径向孔形状选择给出合理建议,并给出模型中的常系数供工程

    航空学报 2021年6期2021-07-07

  • 商用快速接头的检漏方法及其液体漏率计算
    离状态和对接状态漏率指标均优于10-5Pa.m3/s[1]。2 检漏方法2.1 检漏方法分类检漏方法有很多种,习惯上按检漏时被检件内部所处的状态将检漏方法分为以下两类。①加压检漏法:被检件内部充以比外部压力更高的示漏气体,如压降法、气泡法、氦质谱仪吸枪法。②真空检漏法:被检件内部抽真空,将示漏气体施加被检件外部,如真空计法、氦质谱仪喷吹检漏法等。每一种检漏工艺方法都具有特定的使用条件,检漏范围及测试能力。方法的选择应用要与产品的设计指标、使用工况等因素相匹

    工程技术与管理 2021年7期2021-06-15

  • 舱门平衡阀为“天和”配备金钥匙
    在关闭状态下正向漏率不低于2.0×10-6Pa·m3/s,反向漏率不低于2.0×10-5Pa·m3/s,开启力不大于100 N,在轨寿命不小于18年,开关寿命不小于1 000次。舱门平衡阀的应用为空间站各个舱门的顺利开启提供了可靠的条件保障,属国内首创。其设计满足人机工效学要求,在失重状态下方便航天员操作、结构新颖、体积小、质量轻、操作灵活、省力。2021年4月29日,核心舱发射升空,准确进入预定轨道。整器在轨检测漏率指标合格表明,舱门平衡阀技术状态良好,

    真空与低温 2021年3期2021-06-07

  • 舱门快速检漏仪 ——载人航天器的“门神”
    进行快速、准确的漏率检测,具有国际先进水平,产品照片如图1所示。从载人飞船、货运飞船到“天宫”实验室,再到空间站各个舱段(“天和”“梦天”“问天”),舱门快速检漏仪已成为载人航天飞行器的系列化“标配”设备,为航天员在轨工作和生活提供坚实的安全保障,称得上是载人航天器的“门神”。图1 空间站舱门快速检漏仪实物图为确保密封可靠,我国的飞船舱门和对接通道密封面上都装有双道密封圈,舱门关闭后双道密封圈与门框之间会形成一个环形的小腔体,舱门快速检漏仪巧妙利用了这种特

    真空与低温 2021年3期2021-06-07

  • 电位主动控制试验装置供给单元的研制
    度更高,同时对泄漏率的要求也更为苛刻。本文将对新型电位主动控制试验装置供给单元的任务需求、原理方案及试验验证情况进行介绍。1 需求概述货运飞船搭载任务要求新型电位主动控制试验装置位于航天器舱壁外,试验装置外有金属壳保护,金属壳与航天器外壁电位保持一致。供给单元位于试验装置内。供给单元需求包括:尺寸为250 mm×172 mm×100 mm;环境温度范围为-20~50℃;输出氩气流量指标范围为5~50 sccm(25 ℃±5 ℃);漏率(内、外漏叠加的综合漏

    航天器环境工程 2021年1期2021-03-15

  • 月球样品密封封装装置
    如图2所示,密封漏率低于4.5×10−9Pa·m3·s−1,实现了月球样品的低漏率密封。2020年12月2日,月球样品密封装置在月表顺利完成月球样品密封,并于当月17日返回地面,功能和性能正常。月球样品密封封装装置的成功应用,为后续月球极区水冰采样返回、小行星采样返回和火星采样返回等任务提供了技术保障。关键词:月球样品;密封;装置;防污染;极高真空;漏率Key words:lunar sample;seal;subsystem;anti-pollution

    真空与低温 2021年1期2021-02-02

  • 大型密封容器高精度气密性检查方法初探
    3-5]等领域。漏率通常作为衡量气密性的物理量[6]。中国航天工业总公司航天工业行业标准QJ 2592-94《弹头气密性检查实验方法》、QJ 2706-95《弹道式导弹弹头总装、测试和验收通用技术条件》、QJ 3010-98《导弹内外压气密性实验方法》均对不同对象的气密性检查方法给出了详细规定。而通常对于有气密性要求的容器而言,漏孔的截面形状和位置都有随机性。常见的漏孔主要包括零部件本身的焊缝及与管路连接的焊缝,螺栓连接及可拆密封处发生划伤、存在杂质,动密

    机械设计与制造 2020年7期2020-07-22

  • 探讨汽车燃油箱泄漏检测设备设计
    氦检设备;本底;漏率为保护生态环境,保障人体健康,防治压燃式及气体燃料点燃式发动机汽车排气对环境的污染,环境保护部、国家质检总局发布了《轻型汽车污染物排放限值及测量方法(中国第六阶段)》,简称国六排放标准,针对此标准汽车燃油箱对其允许泄露指标有了新的要求,设计一套汽车燃油箱检测设备势在必行。1、国际上常用的燃油箱泄漏检测方法简介对于燃油箱的检测,要检测接口处是否有泄漏,还需要检测整体漏率是否符合要求,目前常用的检测方法有水泡检测法和氦气检测法。(1)水泡检

    好日子(下旬) 2020年4期2020-07-04

  • 金属包装容器二重卷封结构的泄漏机理及其实验研究
    重卷封结构中气体漏率的影响。1 二重卷封结构泄漏模型1.1 二重卷封结构金属包装容器上的密封形式包括罐身接缝和二重卷封。其中,罐身接缝属于永久密封形式,通常使用电阻焊工艺完成,其泄漏可忽略不计。二重卷封结构是金属包装容器罐身与罐盖、罐底的组合,以5层金属本体辅助密封材料咬合连接在一起的密封形式,如图1所示。密封胶预先喷涂在罐盖外沿上,通过二重卷封工艺压紧并充填于罐身与罐盖之间的结合面上,实现二重卷封结构的有效密封。气体经过二重卷封结构的泄漏途径有两种:一是

    兵工学报 2020年1期2020-02-18

  • 橡胶管在氦质谱检漏中渗氦研究
    ,而且能定量检测漏率,精度高达10-10Pa·m3/s,但是氦气也有其自身的缺点,就是氦气是单原子气体,氦分子半径相对较小,分子运动时,很容易穿透大部分物质,例如用橡胶管作为管路检漏,管壁的组成为有机物,分子间隙大,氦分子半径较小,很容易渗透橡胶中穿过管壁,迅速扩散到质谱室,对检漏仪检测的漏率直接造成影响。1 氦质谱检漏原理氦质谱检漏是利用氦气作为示踪气体[1],探测密封容器的漏率,是一种快速定位和定量检测的理想方法,对密闭容器一般采用喷氦法检漏,主要完成

    中国新技术新产品 2020年1期2020-01-05

  • 发射筒O形密封结构密封性能预估研究
    人航天器密封系统漏率设计方法[1];王勇等提供了一种飞船管路系统柱塞密封结构漏率预估模型[2];周鑫等研究了卫星推进系统金属球面密封结构的漏率预估方法[3]。上述研究内容均为针对金属密封件的小密封面的漏率评估,而防空导弹发射筒采用非金属密封件且具有密封面大、密封面多的特点,利用上述方法进行密封面漏率评估存在一定缺陷。目前普遍采用将氮气充入导弹贮运发射筒的方法对导弹进行密封贮存。发射筒各功能口框与筒体之间均通过O形密封结构实现密封。为了确保导弹在筒内环境下具

    空天防御 2019年3期2019-08-23

  • 一种动密封结构老化前后密封性能试验研究
    统的有效最小可检漏率优于5×10-13Pa·m3/s。真空抽气系统主要由前级泵、前级角阀、涡轮分子泵和插板阀等几部分组成,能满足检测系统极限压力优于2×10-4Pa的要求。充气系统主要包括预抽泵、角阀、进样阀门和氦气源四部分[5]。辅助小舱安装在检测室内,检测室与标准漏孔、真空压力规、示漏气体充气系统连接,检测室和真空抽气系统之间采用超高真空插板阀相连接。法兰盘采用金属密封方式与辅助小舱连接,漏率优于2×10-12Pa·m3/s,密封圈试验件和法兰盘之间采

    真空与低温 2019年2期2019-04-29

  • 贮氢压力系统氢介质检漏方法研究
    工作压力下密封氦漏率不大于1.0×10-8Pa·m3/s。这类压力系统常作为设备或武器产品的分系统之一,在服役期间需经历特定的环境载荷(常为一系列运输、加速度、振动等序贯环境),而检测密封性是获得其经历特定环境载荷后性能状态的主要手段。氦质谱检漏方法技术成熟,应用广泛。但是,若直接对服役期间的贮氢压力系统进行氦质谱检漏,涉及高压氢气释放、抽真空、加注氦气、检漏、释放氦气、重新加注氢气等环节,而工艺特性及试验目的不允许对该类系统进行多次装配及充氦检漏。因此,

    压力容器 2019年2期2019-04-08

  • MOCVD系统检漏技术
    体。2 当前主流漏率检测技术目前,氦质谱检漏仪法是世界公认的最灵敏、能定位和定量测量漏孔漏率的一种优选方法。因此在各行业中得到了广泛的应用。如何正确的反映MOCVD 系统工作时的漏率值,并尽可能的降低漏率值,仍然是广大工艺人员和维护人员所关心的问题。另外,基于安全和设备本身的限制,氦质谱检漏仪法并不是万能的,MOCVD 系统部分分支机构需要结合静态升压法、静态降压法、氢气仪检漏法、气泡检漏法等方法进行检漏,只有当设备所有的分系统漏率都处于可接受的范围,才能

    设备管理与维修 2019年17期2019-02-16

  • MOCVD 系统检漏技术
    体。2 当前主流漏率检测技术目前,氦质谱检漏仪法是世界公认的最灵敏、能定位和定量测量漏孔漏率的一种优选方法。因此在各行业中得到了广泛的应用。如何正确的反映MOCVD 系统工作时的漏率值,并尽可能的降低漏率值,仍然是广大工艺人员和维护人员所关心的问题。另外,基于安全和设备本身的限制,氦质谱检漏仪法并不是万能的,MOCVD 系统部分分支机构需要结合静态升压法、静态降压法、氢气仪检漏法、气泡检漏法等方法进行检漏,只有当设备所有的分系统漏率都处于可接受的范围,才能

    设备管理与维修 2019年9期2019-02-16

  • 包装箱正压环境下航天器总漏率检测技术
    航天器子系统的总漏率。现阶段,该技术是在常压环境下开始累积,在累积过程中,航天器包装箱内、外压力差会受箱体内、外温度和大气压变化影响,可能出现包装箱处于正压或负压的工况。基于此,航天器包装箱需进行结构加强设计,而承载负压的设计会造成航天器包装箱质量的大幅增加。本文研究在正压环境下利用氦质谱非真空累积检漏方法进行航天器总漏率测试的可行性和测试结果的准确性,判断这一新的检漏方法是否满足航天器总漏率检测的需求,进而为航天器包装箱的减重设计和利用正压环境进行检漏测

    航天器环境工程 2018年5期2018-10-23

  • 载人航天器对接通道保压检漏方法
    和气密试验,舱体漏率须满足指标要求。结构或密封面失效将导致整个密封舱舱体泄漏,会造成人员伤亡等严重后果,如20世纪60年代苏联“联盟11号”飞船返回时因密封舱失压导致3名航天员丧生。根据航天器在轨检漏的不同目标,检漏方法大体分为整体检漏和局部检漏2类。整体检漏主要是对航天器整舱泄漏情况进行监测,如俄罗斯载人航天器配置了生命保障系统中的压力调节装置,通过膜片压差信号来监测生活舱的大气泄漏情况;局部检漏主要是对某个密封面或者是某个关键的液腔/气腔的漏率进行监测

    航天器环境工程 2018年5期2018-10-23

  • 基于全息激光的光学检漏技术研究
    质谱检漏主要针对漏率小于5 Pa·cm3/s的漏孔,通过向压力装置充入氦气,一般加压2~5 h,如果器件存在漏孔,氦气就会通过漏孔进入器件内部,通过氦质谱检漏仪可以检测到器件内部氦气,并计算出漏率;氟油气泡检漏主要针对漏率大于5 Pa·cm3/s的漏孔,其具体的做法通常为:首先,向压力装置中注入低沸点的氟碳化合物液体,一般加压2 h,如果器件存在漏孔,则液体就会通过漏孔渗入到器件内部;然后,立即取出器件置于 (125±5)℃的高沸点氟碳化合物液体中,使渗入

    电子产品可靠性与环境试验 2018年4期2018-09-04

  • 深入理解光学检漏:漏率计算及其他
    cm3/s的较小漏率,即所谓细检漏。相反,氟油检漏只能确定大于1 Pa·cm3/s的较大漏率,即粗检漏[1]。检漏过程中需遵循先细检漏后粗检漏的原则,否则容易出现漏孔堵塞而呈现密封合格的假象。也就是说,一个完整的检漏过程须分细检漏和粗检漏两步完成。众所周知,我国国家标准、国家军用标准中关于密封试验的方法及程序直接引用了美国军用标准STD-MIL-883中的相应条款,在最新的STD-MIL-883J中给出了光学检漏的漏率计算公式。本文对该公式的推导过程进行了

    电子与封装 2018年7期2018-07-23

  • 基于最小二乘法的氦质谱非真空累积检漏方法研究
    漏仪读数不稳定,漏率初值或终值的读取可能不准确,进而造成测量误差。提出一种基于最小二乘法拟合的氦质谱非真空累积检漏方法,在非真空累积过程中,多次读取收集室内漏率值,并利用最小二乘法对漏率变化率进行拟合,进而求出被检件漏率。大量试验结果表明,与传统的氦质谱非真空累积检漏法相比,该方法可有效避免单次数据测量造成的测量误差,具有更高的数据可信度。航天器;氦质谱检漏;非真空累积;最小二乘法0 引言近年来,随着航天器设计在轨寿命的延长,航天器的密封性能成为衡量航天器

    真空与低温 2017年3期2017-07-25

  • 金属与玻璃封装集成电路小漏率检测技术研究
    璃封装集成电路小漏率检测技术研究卢思佳(工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610)对金属-玻璃封装集成电路的小漏率检测技术进行了研究。首先,介绍了充压式氦质谱检漏法、破坏性内部气氛含量分析法和累积型氦检漏法的原理和流程;然后,分别利用这3种方法,对某试验样品的小漏率进行了检测;最后,根据试验结果,对3种方法的优缺点和适用范围进行了总结,对于金属-玻璃封装集成电路的小漏率的检测方法的正确选择具有重要的指导意义。集成电路;小漏率;检测技术0 引言元器

    电子产品可靠性与环境试验 2016年4期2016-12-08

  • 大型空间环境模拟试验设备的检漏
    不足的问题,在总漏率的测试中提出了真空室累积法,并详细介绍了其测试步骤。空间环境模拟试验设备;检漏;氦质谱检漏技术;真空室累积法0 引言大型空间环境模拟试验设备可用于模拟太空的真空、外热流与冷黑环境,对航天器进行真空放电、热真空平衡及热真空循环等空间环境试验[1-4],主要由罐体和热沉两大部分组成。对其检漏具有典型的大容器检漏特点。由于检漏灵敏度要求很高,选择了氦质谱检漏技术。大型空间环境模拟试验设备泄漏检测的难点主要表现在:(1)设备要求的真空度高(真空

    真空与低温 2016年3期2016-09-22

  • 浅谈汽车空调氦检原理及漏率计算
    车空调氦检原理及漏率计算李俊锋,谢璐璐(上汽通用五菱汽车股份有限公司,广西柳州 545007)通过分析氦检的原理、各种检漏方式的优劣等来说明汽车空调制造商在生产制造过程中为什么选择氦检、如何将氦检运用到生产实际当中,以及详细讲述汽车氦检漏率的计算过程、氦检设备报警点限值的设定和设备的校准管理等。汽车空调;氦检;漏率计算0 引言氦检是汽车空调生产制造中一项先进的常用的检漏技术。为确保汽车空调的制冷效果和使用寿命,汽车空调的蒸发器、冷凝器、压缩机等的检漏是不可

    汽车零部件 2016年6期2016-07-18

  • IC装备真空腔室的气密性检测试验及分析
    的重要因素,腔室漏率数量级不高于、极限真空度数量级不高于,才能满足IC工艺的漏率要求. 本文用氦质谱检漏仪检测真空腔室泄漏情况,并将泄漏处逐一进行堵漏处理,使腔室气密性能达到IC装备的工艺要求. 用静态升压法计算得出腔室漏率为,极限真空度为,考虑用于实际生产的工艺腔室体积小,而本实验腔室体积较大,所以搭建的真空室可以满足IC装备的漏率要求.真空腔室;氦质谱检漏仪;静态升压法;漏率真空设备在电子产品如电子管、晶体管、半导体集成电路的生产与封装中应用广泛,真空

    五邑大学学报(自然科学版) 2015年1期2015-10-22

  • 氦质谱细漏检测最长候检时间的定量拓展
    了当细漏氦气测量漏率判据Rmax小于粗漏判据相应的氦气测量漏率判据R0max时,定量拓展细漏检测最长候检时间的公式,并给出了保持被检件内部氦气分气压不低于0.9倍的正常空气中氦气分气压PHe0的方法。氦质谱;细漏检测;最长候检时间;定量拓展0 引 言2013、2014年申请的发明专利[1-4]提出了定量确定氦质谱细漏检测最长候检时间的方法。基于密封件内外气体交换的分子流模式,在参考文献[5]中论证推演了定量确定压氦法和预充氦法最长候检时间的公式,并在参考文

    中国电子科学研究院学报 2015年6期2015-06-24

  • 氟利昂气体泄漏率的定量分析
    )氟利昂气体泄漏率的定量分析宋栋梁(江苏省计量科学研究院,南京 210007)工业上一般使用标准漏孔对氟利昂检漏仪进行定性检测,由于它的便捷性得到广泛使用。近年来,对标准漏孔的溯源方式和校准方法进行探索逐渐进入人们的视野,对其进一步定量分析,进行测量不确定度定量分析工作迫在眉睫。通过建立数学模型,对标准漏孔在测量过程中影响测量不确定度的因素进行分析和量化。通过实验验证,测量结果的相对扩展不确定度约为4%,基本满足了量值传递过程中10%的要求。氟利昂;标准

    计量技术 2015年3期2015-06-07

  • 浅议军标民标在氦检漏中的差异及虚漏
    介。同时解释测量漏率必须换算成等效标准(空气)漏率的原因,氦气漏率不是密封元器件正规使用的气体漏率。2 试验的标准温度GB/T2423.23-2013规定基准温度为25℃,允许误差为15℃ ~35℃;GJB360B-2009规定基准温度为25℃,允许误差为15℃ ~35℃;GJB548B-2005规定基准温度为25℃,允许误差为±5K。2003年之前,IEC有关标准规定基准温度为23℃,允许误差 15℃ ~35℃,其后 IEC61810-1:2003改为2

    机电元件 2015年4期2015-03-05

  • 卫星推进分系统发动机螺接头漏率变化规律试验研究
    行多次复测发现,漏率值不尽相同。因此,有必要研究螺接头漏率变化规律,为实际工程应用提供依据。截至目前,国内外尚未有螺接头漏率变化规律试验研究的相关报道。 本试验的出发点是以螺接头初始漏率接近合格范围为标准,目的是摸索变化规律,避免因误判而带来的返工或等待时间,提高检漏工作效率和准确性。1 球头-锥面密封结构的泄漏机理球头-锥面密封结构是国内卫星推进系统广泛采用的一种静密封形式(图1)。球头和锥面在拧紧之前为线接触,当施加拧紧力矩后,球头和锥面发生弹塑性变形

    航天器环境工程 2014年6期2014-12-21

  • 柔性收集室检漏技术可靠性分析与验证
    术是一种航天器总漏率检测技术,其工作原理是利用柔性材料制成的罩子作为示漏气体的收集容器,以氦质谱检漏技术为基础进行航天器总漏率检测。该检漏技术的检测方法和检测系统中有许多需要重点注意的环节和要素,针对其可靠性进行分析和试验验证是十分必要的。1 航天器总漏率检测方法目前,航天器总漏率的检测方法主要采用氦质谱非真空累积检漏法,检测系统主要包括收集室、检漏仪、基准气体、示漏气体充放系统、示漏气体取样系统和漏率标定系统等,检测系统以高纯氦气作为示漏气体,此外需要配

    航天器环境工程 2014年6期2014-12-21

  • 采用静态膨胀法校准标准漏孔极小漏率的不确定度评定
    静态膨胀法的极小漏率校准方法并未得到深入系统的研究。这里采用静态膨胀法对10-10Pa·m3/s量级真空标准漏孔进行了校准实验,并着重对校准结果的测量不确定度进行了评定。1 校准原理静态膨胀法校准标准漏孔的极小漏率装置,由真空抽气系统、前级压力测量系统、气体压力衰减系统、质谱计、监测真空计以及非蒸散型吸气剂泵等组成,校准装置原理如图1所示。真空抽气系统由真空抽气机组组成,满足校准室极限真空度小于10-6Pa的要求。前级压力测量系统通过电容薄膜真空计、数字式

    真空与低温 2014年2期2014-05-24

  • 解读标准漏率
    0)1 引言标准漏率,又称标准漏气速率,在 GJB(idt MIL)及IEC标准中已经宣贯几十年了。近年来,有专家称这是虚拟的,并提出了自己的定义,在全国三十多个科研、院校及工厂作报告。并以Email方法发到各单位,要求收到单位组织讨论。笔者所在单位也收到了两份,并有幸收到同事的打印稿,自然要按要求提点意见,但这里仅限“标准漏率”(以下简称“漏率”)这个术语。另一原因是漏率的定义关系到氦检漏的基本计算公式。故把两个术语作个比较,供读者评判别,以便去伪存真。

    机电元件 2014年6期2014-03-05

  • 氦质谱检漏试验方法分析
    定量的氦气后,其漏率低于某一规定值。通常,气密封装材料必须是金属、陶瓷或玻璃。有机物封装(即塑封)虽然没有空腔,但它允许水汽不断地从大气通过封装材料渗透到器件内部,因而属非气密封装。对于金属封装,穿过金属腔壁的互连可以利用膨胀系数与其匹配的玻璃绝缘子来实现密封。气密封装允许将电路安装在密封的充入良性气氛的环境中——一般是充入氮气,它可以由液氮得到。这种氮气非常干燥,水汽含量小于百万分之十(10 ppm)。为进一步地预防水汽的侵入,需将封盖前的封装(电路已安

    电子产品可靠性与环境试验 2014年4期2014-02-09

  • 多次压氦法和预充氦压氦法质谱细检漏方法研究
    均采用相同的测量漏率判据。这对多次压氦法,n次检测的判据可能加严n倍;对预充氦压氦法,检测的判据可能加严几倍到几个数量级。而且还可能出现接近粗漏的大漏的漏检和细漏的错判。在我国的相关行业标准[4]中,曾提出先细检漏,压氦后再细检漏,以后一次漏率的增加值为测量漏率。这种二次检测方法有一定的可行性,但会加大测试的偏差,而且丧失了多次压氦,特别是预充氦所形成的高灵敏检测特性。薛大同等先生经过深入研究和持续的改进[5~7],提出了新的二次检测方法。该方法主要通过多

    中国电子科学研究院学报 2014年1期2014-02-07

  • 真空-氦质谱检漏技术在真空绝热深冷压力容器制造中的应用
    产品存在的漏孔的漏率远小于产品允许的漏率或仪器的最高灵敏度;它不会影响产品的使用效果。如果泄漏量过大,产品就无法正常使用,故须采用合适的检漏方法,测量出产品在规定条件下的漏率,以保证产品的整体质量[2]。检漏的目的是:用适当的方法迅速判断是否漏气。确定漏率,以便确定是否在产品允许的范围之内。选择适当的检漏方法,找出漏孔的确切位置,以便进行修补。真空技术中用漏率表达漏孔的大小,而不以漏孔的几何尺寸表述漏孔的大小。所谓漏率,是指规定条件下,单位时间内通过漏孔的

    机械管理开发 2013年3期2013-12-13

  • 比较法真空标准漏孔校准方法研究
    参考标准进行真空漏率量值传递的漏孔,主要原理是在压力或浓度差的作用下,使气体从气室的一侧通过器壁的孔洞、孔隙、渗透元件流出,该漏孔主要用于氦质谱检漏仪漏率的校准。常用真空标准漏孔校准方法一般分为定容法[1]、恒压法[2]、比较法。定容法是将真空标准漏孔流出的气体引入到已知容积的定容室中,通过测量单位时间内压力的变化量及定容室容积值,计算出真空标准漏孔漏率的一种校准方法,校准范围一般为1×10-2~1×10-8Pa·m3/s。恒压法是将真空标准漏孔流出的气体

    真空与低温 2013年4期2013-12-04

  • 载人航天器密封系统漏率设计方法
    的管路部分。系统漏率是衡量系统密封性能的重要指标。若漏率指标过大,则会造成气体、液体工质的大量泄漏,影响系统性能甚至危及航天员的安全;若漏率指标过小,则导致工程实现难度过大、研制成本过高,甚至会影响方案的可行性。因此,载人航天器密封系统漏率设计是总体设计的一项重要内容[2-3]。本文提出了一种漏率设计方法,并建立相应的漏率检测系统,根据该方法制定了舱体和管路的漏率设计及指标分配的流程。1 载人航天器密封系统与载人航天器密封性能紧密相关的主要包括舱体密封系统

    航天器环境工程 2013年6期2013-11-28

  • 氦质谱细检漏的基本判据和最长候检时间
    谱检漏仪检测氦气漏率。这种方法的优点是使用同样灵敏度(或最小可检漏率)的检漏仪,对大部分内腔容积范围可以比压氦法检出更低氦气标准漏率的样品。其缺点是只能一次性充氦,当存在泄漏时,经一定时间贮存候检,必然产生漏检。目前越来越多的军用标准规定在工艺控制中采用这种方法。压氦法是英国人 Howl,D.A 和 Mann,C.A.[11]在20世纪60年代提出的,很快被美国军标所采用,现在已被各项标准普遍采用。具体方法是将密封元器件放入压气罐,抽真空后施加一定压力(P

    中国电子科学研究院学报 2013年2期2013-11-10

  • 氦质谱捡漏的几个问答
    1 术语等效标准漏率中温度定为25℃,为什么没有公差,如25℃ ±5K?等效标准漏率,即通常所说的漏率。众所周知,气体漏率与温度有关,故标准确定了基准点,将不同温度下的漏率换算成25℃下的数值,以便实现可比性和再现性。如果定为25℃ ±5K就可能换算成20℃或30℃下的值,就无法进行比较或再现。等效漏率的单位为Pa·cm3。漏率即单位时间内通过漏孔泄漏出的气体量,则仅有体积(V)和压强(P)是无法衡量气体量的。气体量必须用PV/T或M(质量)来表示的。温度

    机电元件 2013年1期2013-10-12

  • 冷媒气体泄漏率的定量分析
    论计算直接得出其漏率值,可实现超微小漏率的检测;同时可利用现有的色谱技术对标准漏孔的漏率进行标定。漏孔根据填充物和功用的不同分为很多种,文中描述的以氟利昂为填充物的标准漏孔。氟利昂等消耗臭氧物质是臭氧层破坏的元凶,氟利昂是本世纪20年代合成的,其化学性质稳定,不具有可燃性和毒性,被当作制冷剂、发泡剂和清洗剂,广泛用于家用电器、泡沫塑料、日用化学品、汽车、消防器材等领域。氟利昂物质有 R134A、R600A、R22、R404c、R407A、R410c等型氟利

    低温与特气 2013年5期2013-09-19

  • 更正说明
    用锡焊密封,其泄漏率很难达到不大于10-8atm﹒cm3/s(10-3Pa﹒cm3/s),暂允许为泄漏率不大于1×10-5atm﹒cm3/s(100Pa﹒cm3/s)。而GJB65B标准规定的继电器均采用熔焊密封,继电器按4.8.6进行试验时,空气漏率不得超过1×10-3Pa﹒cm3/s(不是测量漏率R1)。从漏率的数值上来看GJB65B标准比QJ840617技术条件要求的高很多,另外GJB65B标准规定的是“空气漏率”又比QJ840617技术条件高约一个

    机电元件 2013年6期2013-02-20

  • 金属压扁型正压漏孔不同压力下的漏率研究
    意义。正压漏孔的漏率是指漏孔的入口压力高于一个标准大气压,出口压力为一个标准大气压或者当地大气压力时,在(23±3)℃的环境温度条件下的漏率。通常在23℃温度条件下,入口为2个标准大气压,出口为一个标准大气压,以某种特定气体(通常使用氦气)为示漏气体对正压漏孔进行校准,此时的校准值即作为正压漏孔的漏率值。实验表明,在不同的入口压力和出口压力条件下,同一支正压漏孔的漏率值是不相同的。在实际的正压检漏工作中,正压漏孔两端的压力往往在某个范围内变化,在实验室对所

    真空与低温 2011年4期2011-12-04

  • 标准中氦质谱检漏试验判据的研究
    谱检漏时的氦测量漏率极限值。灵活方法只针对不同器件的内腔容积,规定器件的空气等效标准漏率的极限值,实施时根据规定的等效标准漏率和实际的加压条件,计算氦测量漏率极限值。作为制定详细规范和实施检验时可以选用的两种方法,其宽严程度应该基本相当。但是本文以美国军用标准MIL-STD-750E《半导体器件试验方法》[1]为例进行的具体计算说明并非如此。灵活方法明显严于固定方法,多数情况下超过一个数量级。2 计算方法和结果美国军用标准MIL-STD-750E《半导体器

    电子产品可靠性与环境试验 2011年3期2011-02-04